内存高品质分级筛选服务
面向内存器件筛选、分级与质量评估需求，结合 ATE / SLT 双模式测试、JEDEC 标准与加严测试流程，对器件进行测试筛选，并根据结果进行等级分类管理。对于符合条件的器件，还可结合 PPR 硬件级修复能力进行进一步处理。
KTi 测试理念
采用双重检测标准：以 JEDEC 行业规范及原厂设计规范为依据，对内存来料进行加压测试，并根据测试结果进行分级筛选，区分为优等品、标准品和不良品。
分级结果说明
Bin1｜优等品
通过 JEDEC 标准、原厂设计标准及 KTi 加严测试，适用于品质要求较高的服务器内存产品。
Bin2｜标准品
通过 JEDEC 标准并符合供应商出货规格，可用于中低阶产品应用或市场销售。
Bin8｜残次品
未达到 JEDEC 规范要求，可根据供应商流程进行退换货处理。
通过 JEDEC 标准、原厂设计标准及 KTi 加严测试，适用于品质要求较高的服务器内存产品。
Bin2｜标准品
通过 JEDEC 标准并符合供应商出货规格，可用于中低阶产品应用或市场销售。
Bin8｜残次品
未达到 JEDEC 规范要求，可根据供应商流程进行退换货处理。
ATE + SLT 双模式测试
结合 ATE 逻辑测试与 SLT 应用测试，对内存器件进行测试筛选，从不同测试方式评估器件表现。
基于 JEDEC 标准的加严测试流程
基于 JEDEC 标准，结合自研测试设备进行时序参数测量与分析，并根据测试结果制定加严测试条件。支持 82 种可选测试算法，可调整测试项目与检测条件，用于内存器件筛选。
内存硬件级修复（Post Package Repair）
支持 Post Package Repair（PPR）硬件级修复，可对符合条件的内存产品进行修复处理。部分标准品经修复后可升级为优等品，部分残次品可修复为标准品。
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