失效分析与 ATE 电性能测试
提供失效分析与 ATE 电性能测试服务，通过 ATE 平台进行失效定位，结合 SLT 平台进行失效复现，协助客户分析内存器件异常表现。
失效定位与复现测试
针对客户提供的 4～50 pcs 内存颗粒或 1～8 pcs 内存条，结合应用平台错误信息开展失效分析测试。
ATE + SLT 双平台分析
通过 ATE 电性能测试平台进行失效定位，并结合 SLT 测试平台复现失效情况，为后续问题分析提供测试依据。
测试结果与报告交付
初步测试结果可在 3 天内提供，包括高品质筛选和 DRS 检测；最终失效分析报告预计在 5～7 天内完成。
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