产品中心
近四十年深耕内存测试，以持续演进的测试技术与产品能力，支持研发验证、生产测试与质量检测。
DRAM 测试与质量检测
围绕内存器件从导入验证、分级筛选到失效分析与 PPR 修复，提供基于 ATE / SLT 测试、数据分析与工程方法的专业服务，
为产品验证、质量评估与问题分析提供测试依据。
为产品验证、质量评估与问题分析提供测试依据。
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内存高品质分级筛选服务
面向内存器件筛选、分级与质量评估需求，结合 ATE / SLT 双模式测试、JEDEC 标准与加严测试流程... -
新器件导入认证测试
面向新型内存颗粒及内存条的导入验证，通过不同电压、温度条件下的测试，结合核心参数、功耗、功能及信号完整性分析... -
失效分析与 ATE 电性能测试
提供失效分析与 ATE 电性能测试服务，通过 ATE 平台进行失效定位，结合 SLT 平台进行失效复现，协助客户分析内存器件异常表现... -
PPR 修复服务
提供内存 PPR 修复服务，针对符合修复条件的 Bin2 修复升级为 Bin1 ，通过自研测试机台进行故障地址定位与修复...
