KT-5DA DDR5 颗粒测试机
面向 DDR5 SDRAM 颗粒测试，集成并行测试、测试条件配置、专业测试算法与 Shmoo 扫描分析等能力，
支持功能测试、特性分析、失效分析及分级筛选等测试应用。
支持功能测试、特性分析、失效分析及分级筛选等测试应用。
多芯片并行测试，灵活扩展测试规模
支持多颗 DDR5 芯片并行测试，并可结合自动化系统进行多机扩展。
灵活配置测试条件，支持 Shmoo 扫描分析
支持测试条件灵活配置，并提供 Shmoo 扫描与分析能力，帮助工程人员观察颗粒在不同测试条件下的表现，分析测试边界。
专业测试算法与测试管控，支持分析与分级筛选
集成多种 DDR5 颗粒测试算法与专项测试项目，并支持测试过程管控、分级筛选及测试结果数据记录。
核心亮点
